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FluoroCube / UltraFast荧光寿命测试系统
荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外,可见,或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒,或更长的寿命范围。
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荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast分子荧光 可检测NATA
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast适用于寿命衰减项目,参考多项行业标准0。可以检测NATA等样品。可应用于蛋白行业领域。 HORIBA Scientific
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荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast分子荧光 应用于蛋白
堀场HORIBA荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast可用于测定NATA,适用于寿命衰减项目。并且参考多项行业标准0。可应用于蛋白行业领域。 • 激发/发射单色仪
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分子荧光荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast 可检测硅纳米颗粒
堀场HORIBA荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast用于测定硅纳米颗粒,符合行业标准0。适用荧光各向异性研究项目。 HORIBA Scientific(Jobin Yvon
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分子荧光FluoroCube / UltraFast荧光寿命测试系统 MCS和蛋白质磷光
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast适用于寿命衰减项目,参考多项行业标准0。可以检测NATA等样品。可应用于蛋白行业领域。 • 激发/发射单色仪
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堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast 适用于荧光各向异性研究
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast可以用在纳米材料行业领域,用来检测硅纳米颗粒,可完成荧光各向异性研究项目。符合多项行业标准0。 • 激发/发射单色仪
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堀场HORIBA荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast 应用于纳米材料
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast用于测定硅纳米颗粒,符合行业标准0。适用荧光各向异性研究项目。 HORIBA Scientific(Jobin Yvon光谱技术
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堀场HORIBAFluoroCube / UltraFast分子荧光 通过荧光各向异性来检测硅纳米颗粒
堀场HORIBA荧光寿命测试系统FluoroCube / UltraFast参考多项行业标准0。完成硅纳米颗粒的检测。可以用在纳米材料行业领域中的荧光各向异性研究项目。 HORIBA
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HORIBA JY荧光寿命测试系统-FluoroCube
• 低温附件 • 低荧光背景滤光片 • 更多光源见 www.picocomponents.com 技术参数: • 寿命范围从皮秒至秒 • 基于滤光片实现波长选择
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分子荧光分光光度计Panaroma
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